仪器介绍
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种高分辨率的表面分析仪器，能够以原子级精度研究材料的表面形貌和物理性质。以下是关于原子力显微镜的详细介绍：
原理
AFM的基本原理是利用微悬臂，其一端固定，另一端带有一个微小的针尖。针尖与样品表面接触或接近时，会受到样品表面原子间的作用力（如范德华力、静电力等）。通过检测微悬臂的形变或振动变化，AFM可以获取样品表面的形貌信息
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常见的工作模式包括：
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接触模式：针尖与样品表面直接接触，微悬臂的形变通过光学检测法或隧道电流检测法记录
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轻敲模式（Tapping Mode）：微悬臂在样品表面附近振荡，针尖与样品间周期性接触，减少对样品的损伤
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非接触模式：针尖不接触样品表面，通过检测样品与针尖间的静电力等相互作用力来成像
服务协议
Tapping模式形貌扫描500元每小时，特殊模块（PFM、KPFM、CAFM、SCM、SSRM、PeakForce等）2000元每小时，委托测试2200元每小时。特殊模块测试前请联系设备管理员评估实验可行性。
最短预约时间30分钟。
