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半导体晶片电阻率测试仪 LEI1510EC

  • LEI-1510EC
  • LEI
  • SN201712202
  • 电学测量和光谱分析
  • 按时预约(按时计费)
  • 在线
  • 田飞飞

    18015595581

    fftian2009@sinano.ac.cn

  • E206
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仪器介绍

无需做电极,直接测量衬底方块电阻或电阻率。

可测量衬底尺寸:2、3、4、5、6、8寸。可测量衬底厚度≤0.8mm。可实现整个衬底mapping测试(≤300点)。

 

性能指标

量程              测试范围

XL              0.032~1.6Ω/□

LO              0.16~16Ω/□

HI              15~3000Ω/□

 

仪器配置

SS

操作规范

技术资料

服务协议

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