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半导体参数测试仪 4200

  • 4200
  • KEITHLEY
  • SN200806012
  • 电学测量和光谱分析
  • 自行操作(按时计费)
  • 在线
  • 田飞飞

    18015595581

    fftian2009@sinano.ac.cn

  • E206
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仪器介绍

具有4个中功率源表、1个高功率源表、3个前置放大器、CV模块;与光电磁全屏蔽探针台配合,可满足各种半导体、纳米光电子材料与器件fA精度直流电学分析。

 

性能指标

1. 直流测试:可实现电流电压扫描或恒流恒压测试。最大电流1A,最大电压200V,最大功率20W,最小电流分辨率0.1fA。

2. C-V测试:频率范围20Hz~1MHz,电压范围-40V~40V。

 

仪器配置

SS

操作规范

技术资料

服务协议

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